Օբյեկտ

Վերնագիր: Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm

Հեղինակ:

Harutyunyan Gurgen

Տեսակ:

Conference

Համահեղինակ(ներ):

Shoukourian Samvel ; Vardanian Valery ; Zorian Yervant

Ամփոփում:

A new solution for building memory BIST infrastructure, based on rules of fault periodicity and regularity in test algorithms was introduced recently. These rules are represented in a form of a Fault Periodicity Table (FPT) considering both known and unknown memory faults in one table. Each column of FPT corresponds to a fault nature which can be associated with a variety of different test mechanisms while each row of FPT corresponds to a fault family determined by the complexity of fault sensitization. In this paper, application of the proposed methodology for description of memory faults in technologies below 20nm, including 16/14nm FinFET-based memories, is shown. Specifically, it is shown that all recently discovered FinFET-specific faults successfully fit into FPT.

Հրատարակիչ:

IEEE

Նույնականացուցիչ:

oai:noad.sci.am:136123

DOI:

10.1109/EWDTS.2014.7027088

ISBN:

978-1-4799-7630-0

ORCID:

սեղմել այստեղ՝ կապին հետևելու համար

Լեզու:

English

Հատոր:

13

URL:


Կազմակերպության անվանում:

Synopsys Armenia

Երկիր:

Ukraine

Տարի:

2014

Ժամանակահատված:

26-29 September

Գիտաժողովի անվանում:

Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2014)

Վայր:

Kiev

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Վերջին անգամ ձևափոխված:

Apr 19, 2021

Մեր գրադարանում է սկսած:

Apr 19, 2021

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

5

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://noad.sci.am/publication/149628

Ցույց տալ նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

RDF

Ցույց տալ նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

OAI-PMH

Հրատարակության անուն Ամսաթիվ
Gurgen Harutyunyan, Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm Apr 19, 2021

Օբյեկտներ

Նման

Այս էջը օգտագործում է 'cookie-ներ'։ Ավելի տեղեկատվություն